河野真治 @ 琉球大学情報工学です。

In article <86k58o8aao.fsf@bsd2.4bn.ne.jp>, Yoshitaka Ikeda <ikeda@4bn.ne.jp> writes
> チップを削って、電子顕微鏡で見て内容を修復していくんじゃないでしょうか。
> まあ、それで修復できるかどうかはわからないですが。

iONLINE ISSN    :       1881-4743
PRINT   ISSN    :       0388-5321
表面科学
Vol. 28 (2007) , No. 2 pp.78-83
[PDF (490K)] [引用文献] 
走査型非線形誘電率顕微鏡によるフラッシュメモリ中の蓄積電荷の可視化
本田 耕一郎1), 長 康雄2)

とかいうのがあるな〜

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Shinji KONO @ Information Engineering, University of the Ryukyus
河野真治 @ 琉球大学工学部情報工学科