河野真治 @ 琉球大学情報工学です。

NAND型はデータ保持時間は10年なんて話があるなぁ...

In article <86k58o8aao.fsf@bsd2.4bn.ne.jp>, Yoshitaka Ikeda <ikeda@4bn.ne.jp> writes
> チップを削って、電子顕微鏡で見て内容を修復していくんじゃないでしょうか。
> まあ、それで修復できるかどうかはわからないですが。

電荷が抜けちゃうので厳しいでしょうね。むしろ、シリコン酸化膜の
劣化を検出することは出来るかも知れない。けど、それと記録された
データの相関は、ほとんどないだろうし...

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Shinji KONO @ Information Engineering, University of the Ryukyus
河野真治 @ 琉球大学工学部情報工学科